系统一体化设计（散热器即为灯壳）。充分保障LED导散热的要求及使用寿命的保证，虽然开发费用比值高，但质量保证的比值更高。温度补偿恒流技术的设计。使LED灯管无亮度延时过程，通电即可到达正常亮度。 PWM恒流技术的设计。LED最好的驱动方式，也是保证LED使用寿命的最理想工作电源，彻底解决传统LED灯管采用恒压不恒流驱动方式带来的LED闪光问题。宽发光角度，更接近传统日光灯管，以满足更多场所使用，市面上普通LED日光管多为120°-180° 发光。
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国家实用新型 仿制必究
特点：通过小功率贴片LED形成阵列光源，在结构设计上充分保证光通量的同时，在外观效果和节能方面的最佳设计。通过使用灯罩材质扩散剂，在保证最大照度的同时实现不刺眼，不见光斑，使光线更柔和，消除普通LED灯的不良眩光所引起的刺眼、视觉疲劳与视线干扰。我公司自主研发、生产高性能LED日光灯驱动恒流电源，其驱动电流都限制在芯片规格的最佳范围内，保证LED芯片的超长寿命。另外通过结构优化设计使其发热小，单位瓦数效率高，芯片的光衰减也更小，真正实现了LED日光灯真正的长寿命/低光衰。
Advantages:
过小功率贴片LED形成阵列光源，在结构设计上充分保证光通量的同时外观效果和节能方面的最佳设计。
1. Using Low Power high brightness SMD as light sources with high luminary efficiency, the light attenuation of the SMD LED is better than DIP.
通过使用灯罩材质扩散剂，在保证最大照度的同时实现不刺眼，不见光斑，使光线更柔和，消除普通LED灯的不良眩光所引起的刺眼、视觉疲劳与视线干扰。
2. Using unique PC Cover，with excellent transmittance and uniformity for light spread, but no shadow or LED spot can be seen from outside and with the cozyand gentle light output without flashing and UV radiation !
3. 我公司自主研发、生产高性能LED日光灯驱动恒流电源，其驱动电流都限制在芯片规格的最佳范围内，保证LED芯片的超长寿命。
Researching and developing and manufacturing high-performance LED Driver with constant current power supply by ourselves, the driver current is limited to the best range of chip specifications to ensure long lifespan of LED chips.
4. 另外通过结构优化设计使其发热小，单位瓦数效率高，芯片的光衰减也更小，真正实现了LED日光灯真正的长寿命/低光衰。
By the unique design of the aluminum base with excellent heat dissipation, making sure the LED long lifespan and low light attenuation.
引用标准及规范参考
GB-T2423.1-2001 电工电子产品环境试验，第2部分：试验方法/试验A：低温
GB-T2423.2-2001电工电子产品环境试验，第2部分：试验方法/试验B：高温
GB-T2423.3-1993电工电子产品基本环境试验规程-试验Ca：恒定湿热试验方法
GB-T2423.4-1993电工电子产品基本环境试验规程-试验Db：交变湿热实验方法
GB-T2423.5-1995电工电子产品环境试验，第2部分：试验方法/试验Ea和导则：冲击
GB-T2423.6-1995电工电子产品环境试验，第2部分：试验方法/试验Ea和导则：碰撞
GB-T2423.8-1995电工电子产品环境试验，第2部分：试验方法/试验Ed：自由跌落
GB-T2423.10-1995电工电子产品环境试验，第2部分：试验方法/试验Fc和导则：振动（正弦）
GB-T2423.11-1997电工电子产品环境试验，第2部分：试验方法/试验Fd：宽频带随机振动—一般要求
GB-T2423.22-2002电工电子产品环境试验，第2部分：试验N：温度变化
GB-T14508-93等级公路货物运输机械环境条件
EN55022：1998信息技术设备-无线干扰特性-限值和测量方法：
EN55024：1998信息技术设备-抗干扰特性-限值和测量方法：
CEI IEC 61000-4-2 2001 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
CEI IEC 61000-4-3 2002 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验
CEI IEC 61000-4-4 1998 电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
CEI IEC 61000-4-5 1999 电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验
CEI IEC 61000-4-6 2001 电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰度试验
CEI IEC 61000-4-8 1993 电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验
CEI IEC 61000-4-11 1994 电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
CEI IEC 61000-4-29 2000 电磁兼容试验和测量技术直流输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
